TOPCON拓普康二維光譜輻射計：精準捕捉每一縷光的科學(xué)利器

更新時間：2025-12-01 點擊次數(shù)：138

高分辨率、高精度與高效率的結(jié)合，正重新定義光學(xué)測量的邊界。

在現(xiàn)代工業(yè)與科研領(lǐng)域，光的精確測量已成為顯示技術(shù)、照明工程、材料科學(xué)等多個行業(yè)發(fā)展的關(guān)鍵。傳統(tǒng)單點測量設(shè)備已難以滿足對復(fù)雜表面光學(xué)特性全面分析的需求。

TOPCON拓普康的二維光譜輻射計應(yīng)運而生，以其面測量技術(shù)實現(xiàn)了從“點"到“面"的跨越，為光學(xué)測量設(shè)立了新標準。

01 產(chǎn)品系列與架構(gòu)：從SR-5000到SR-5100的技術(shù)演進

TOPCON拓普康二維光譜輻射計產(chǎn)品線主要包含SR-5000/5000H和SR-5100等多個型號，滿足不同場景下的精確測量需求。

SR-5000系列作為基礎(chǔ)型號，配備了140萬像素彩色CCD圖像傳感器，有功像素達1376×1024，數(shù)據(jù)位為14bit，能夠捕捉細致的光學(xué)信息。

而SR-5100則實現(xiàn)了技術(shù)飛躍，將分辨率提升至500萬像素(2448×2048)，實現(xiàn)了更高精度的二維分光測量。

這些儀器采用非破壞、非接觸的測量方式，可同時對500萬點進行分光測量，準確分析光源的光譜特性、材料分光穿透率及物體的分光反射率特性。

TOPCON拓普康二維光譜輻射計融合了多項技術(shù)，構(gòu)成了其在光學(xué)測量領(lǐng)域的核心競爭力。

SR-5000系列采用1nm的分光測光方式，波長精度達±0.5nm (Hg波寬線上、高精度模式時)，光譜波寬為7nm(半波寬)。

SR-5100更將波長精度提高到±0.3nm，實現(xiàn)了單點式分光輻射計同等性能的二維分光測量。

SR-5000的測定范圍覆蓋0.5 - 5,000,000 cd/m2，而SR-5100則進一步將測量量程提升至170億cd/m2的高亮度范圍。

這種寬廣的量程使得它能夠同時測量極低亮度和超高亮度的物體，滿足多種條件下的測量需求。

SR-5000標準配置f=32mm對物鏡，搭配廣角輔助鏡時可達到f=24mm。

SR-5100則支持分光及XYZ兩種測量模式，可根據(jù)需要發(fā)揮各優(yōu)點的高精度及高速的符合機型。

TOPCON拓普康二維光譜輻射計的應(yīng)用范圍廣泛，覆蓋多個行業(yè)的光學(xué)測量需求。

在顯示技術(shù)領(lǐng)域，它們可用于LCD、OLED、QD、激光、Micro LED及關(guān)聯(lián)材料等的亮度、色度、分光光譜的評價。

對于快速發(fā)展的Micro/Mini LED顯示屏及相關(guān)材料，也能進行精確的光學(xué)特性評估。

汽車產(chǎn)業(yè)同樣受益于這類儀器，可用于汽車儀表盤及內(nèi)外裝照明的發(fā)光分布特性、分光光譜的評價。

LED照明、OLED照明的發(fā)光部的亮度、色度均勻性、分光光譜均勻性的評價也是其重要應(yīng)用場景。

SR-5100可用于纖維染織物的分光光譜評價，以及光學(xué)膜及涂層的不均勻、干涉條紋的測量。

SR-5100HM與顯微鏡結(jié)合，可用于病理組織的染色狀態(tài)的些微差異的解析及量化評價測量，為醫(yī)療診斷提供重要依據(jù)。

TOPCON拓普康二維光譜輻射計不僅僅是一種測量工具，更是推動多個行業(yè)技術(shù)進步的催化劑。

其二維分光測量能力使研究人員和工程師能夠直觀看到整個被測面的光學(xué)特性分布，識別單點測量難以發(fā)現(xiàn)的不均勻性和缺陷。

隨著顯示技術(shù)和照明行業(yè)的快速發(fā)展，對測量儀器提出了更高要求。TOPCON拓普康通過SR-5100等新型號的產(chǎn)品，不斷拓展測量極限，滿足日益增長的高精度、高效率測量需求。

此外，近紅外分光輻射計SR-NIR的推出，使測量波長范圍擴展到380nm-1030nm，滿足了顯示器及照明市場對“近紅外領(lǐng)域"日益增長的測定需求。

從實驗室的精密研究到工業(yè)生產(chǎn)線上的質(zhì)量檢測，TOPCON拓普康二維光譜輻射計正以其的性能和精確的數(shù)據(jù)，幫助工程師和研究人員解鎖光的奧秘。

正如一位專家所言，這些儀器猶如給科學(xué)家長了“火眼金睛"，讓最細微的光譜差異也無處可藏。